Arama Sonuçları - Joy, David C.

  • Gösterilen 1 - 2 sonuçlar arası kayıtlar. 2
Sonuçları Daraltın
  1. 1

    Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Yazar: Goldstein, Joseph I., Newbury, Dale E., Michael, Joseph R., Ritchie, Nicholas W.M, Scott, John Henry J., Joy, David C.

    Baskı/Yayın Bilgisi Springer New York : Imprint: Springer, 2018.
    Full-text access
    e-Kitap
  2. 2

    Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Yazar: Goldstein, Joseph

    Baskı/Yayın Bilgisi Springer, 2018
    Diğer Yazarlar:
    Kitap