Arama Sonuçları - Lu, Toh-Ming

  • Gösterilen 1 - 1 sonuçlar arası kayıtlar. 1
Sonuçları Daraltın
  1. 1
    Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics Time Dependent Failure Mechanisms /

    Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics Time Dependent Failure Mechanisms / Yazar: Borja, Juan Pablo, Lu, Toh-Ming, Plawsky, Joel

    Baskı/Yayın Bilgisi Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2016.
    Full-text access
    e-Kitap

Arama Araçları: