Yüklüyor…
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
| Yazar: | |
|---|---|
| Diğer Yazarlar: | , , , , |
| Materyal Türü: | Kitap |
| Dil: | İngilizce |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
New York :
Springer,
2018
|
| Edisyon: | fourth edition. |
| Konular: |
| Diğer Bilgileri: | Dizin : 547-550 sayfa. |
|---|---|
| Fiziksel Özellikler: | 550 sayfa : şekil ; 28 cm. |
| Bibliyografya: | Kaynakça bölüm sonlarındadır. |
| ISBN: | 9781493966745 |