Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /

Show other versions (1)
Bibliographic Details
Main Author: Goldstein, Joseph
Other Authors: Newbury, Dale E., Michael, Joseph R., Ritchie, Nicholas W. M., Scott, John Henry J., Joy, David C.
Format: Book
Language:English
Published: New York : Springer, 2018
Edition:fourth edition.
Subjects:
Tarayıcı elektron mikroskopları.
Scanning electron microscopes.
X-ışını mikroskopisi.
X-ray microscopy.
Description
Item Description:Dizin : 547-550 sayfa.
Physical Description:550 sayfa : şekil ; 28 cm.
Bibliography:Kaynakça bölüm sonlarındadır.
ISBN:9781493966745

Similar Items