Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis - Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas W. M.; Scott, John Henry J.; Joy, David C. (New York : Springer, 2018)
Dizin : 547-550 sayfa.
Kaynakça bölüm sonlarındadır.
Keywords: Tarayıcı elektron mikroskopları; Scanning electron microscopes; X-ışını mikroskopisi; X-ray microscopy