Yüklüyor…
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
Yazar: | |
---|---|
Diğer Yazarlar: | , , , , |
Materyal Türü: | Kitap |
Dil: | İngilizce |
Baskı/Yayın Bilgisi: |
New York :
Springer,
2018
|
Edisyon: | fourth edition. |
Konular: | |
Online Erişim: | OPAC'ta görüntüle |
Internet
OPAC'ta görüntüleMerkez Kütüphane
Yer Numarası: |
TA404.6 G653 2018
|
---|---|
Kopya Bilgisi | Rafta |