Yüklüyor…
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
Yazar: | Goldstein, Joseph |
---|---|
Diğer Yazarlar: | Newbury, Dale E., Michael, Joseph R., Ritchie, Nicholas W. M., Scott, John Henry J., Joy, David C. |
Materyal Türü: | Kitap |
Dil: | İngilizce |
Baskı/Yayın Bilgisi: |
New York :
Springer,
2018
|
Edisyon: | fourth edition. |
Konular: | |
Online Erişim: | OPAC'ta görüntüle |
Benzer Materyaller
-
X-ray fluorescence spectrometry and related techniques : An introduction /
Yazar:: Marguai, Eva
Baskı/Yayın Bilgisi: (2013) -
Principles and practice of variable pressure/environmental scanning electron microscopy (VP-ESEM) /
Yazar:: Stokes, Debbie
Baskı/Yayın Bilgisi: (2008) -
Elektron mikroskoplarının endüstriyel problemlere uygulanması : yardımcı ders kitabı /
Yazar:: Savaşkan, Temel
Baskı/Yayın Bilgisi: (1986) -
Electron microscopy and analysis /
Yazar:: Goodhew, Peter J.
Baskı/Yayın Bilgisi: (2001) -
Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM /
Yazar:: Egerton, R. F.
Baskı/Yayın Bilgisi: (2005)