Yüklüyor…

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /

Detaylı Bibliyografya
Yazar: Goldstein, Joseph
Diğer Yazarlar: Newbury, Dale E., Michael, Joseph R., Ritchie, Nicholas W. M., Scott, John Henry J., Joy, David C.
Materyal Türü: Kitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: New York : Springer, 2018
Edisyon:fourth edition.
Konular:

Benzer Materyaller