Makine öğrenmesi yaklaşımıyla yonga üretim sürecindeki yarı iletken levha hatalarının sınıflandırılması ve benzerliklerinin derecelendirilmesi - Ergen, Gökhan (2022)
Bu çalışmada çip sektörünün en yüksek hacimli üreticisi TSMC firmasının, MIRLAB iş birliğiyle araştırmacılara açık hale getirdiği WM-811K isimli gerçek çip üretim şartlarından elde edilmiş wafer veri seti kullanılarak, wafer kusur desenini sınıflandıran bir evrişimli sinir ağı modeli geliştirilmiştir. Çip üretiminin maliyetli ve yüksek teknolojik altyapı gerektirdiği göz önünde bulundurulduğunda, araştırmacılara açık hale getirilen bu veri setinin değeri daha iyi anlaşılabilir. Bu sayede yapılan araştırmalar tekrarlanabilir, karşılaştırılabilir ve daha şeffaf hale gelmiştir. Tabi bu durumdan en çok yine çip üreticileri yararlanacaktır.