Yüklüyor…
Makine öğrenmesi yaklaşımıyla yonga üretim sürecindeki yarı iletken levha hatalarının sınıflandırılması ve benzerliklerinin derecelendirilmesi /
Bu çalışmada çip sektörünün en yüksek hacimli üreticisi TSMC firmasının, MIRLAB iş birliğiyle araştırmacılara açık hale getirdiği WM-811K isimli gerçek çip üretim şartlarından elde edilmiş wafer veri seti kullanılarak, wafer kusur desenini sınıflandıran bir evrişimli sinir ağı modeli geliştirilmişti...
| Yazar: | |
|---|---|
| Kurumsal yazarlar: | , |
| Diğer Yazarlar: | |
| Materyal Türü: | Tez |
| Dil: | Türkçe |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
Bursa,
2022.
|
| Konular: |
Merkez Kütüphane
| Yer Numarası: |
MEM YL E744 2022
|
|---|---|
| Kopya Bilgisi | Tez |