Yüklüyor…
Makine öğrenmesi yaklaşımıyla yonga üretim sürecindeki yarı iletken levha hatalarının sınıflandırılması ve benzerliklerinin derecelendirilmesi /
Bu çalışmada çip sektörünün en yüksek hacimli üreticisi TSMC firmasının, MIRLAB iş birliğiyle araştırmacılara açık hale getirdiği WM-811K isimli gerçek çip üretim şartlarından elde edilmiş wafer veri seti kullanılarak, wafer kusur desenini sınıflandıran bir evrişimli sinir ağı modeli geliştirilmişti...
| Yazar: | Ergen, Gökhan |
|---|---|
| Kurumsal yazarlar: | Bursa Teknik Üniversitesi Mekatronik Mühendisliği Anabilim Dalı, Lisansüstü Eğitim Enstitüsü |
| Diğer Yazarlar: | Düven, Ekrem (tez danışmanı.) |
| Materyal Türü: | Tez |
| Dil: | Türkçe |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
Bursa,
2022.
|
| Konular: | |
| Online Erişim: | https://hdl.handle.net/20.500.12885/3282 OPAC'ta görüntüle |
Benzer Materyaller
-
Patlıcan esaslı alternatif çerez gıdaların geliştirilmesi /
Yazar:: Sever, Ercan
Baskı/Yayın Bilgisi: (2018) -
Üç ve dört boyutlu düzgün ve yarı düzgün geometrik şekiller/
Yazar:: Arık, Metin
Baskı/Yayın Bilgisi: (2021) -
3B eklemeli üretim yöntemiyle üretilmiş hücresel kafes yapılı sandviç panellerin mekanik davranışlarının incelenmesi /
Yazar:: Ercan, Necati
Baskı/Yayın Bilgisi: (2019) -
Orman Ürünlerinin üretiminde kullanılan kıskaçlı yükleyicinin verim analizi /
Yazar:: Fındık, Hüseyin Eren
Baskı/Yayın Bilgisi: (2019) -
Parabolik oluklu güneş kollekterü ile buhar üretimi /
Yazar:: Vatansever, Koray
Baskı/Yayın Bilgisi: (2020)