Yüklüyor…
Electron microscopy and analysis /
Yazar: | Goodhew, Peter J. |
---|---|
Diğer Yazarlar: | Humphreys, F. J., Beanland, R. |
Materyal Türü: | Kitap |
Dil: | İngilizce |
Baskı/Yayın Bilgisi: |
London :
Taylor & Francis,
2001.
|
Edisyon: | 3. baskı |
Konular: | |
Online Erişim: | OPAC'ta görüntüle |
Benzer Materyaller
-
Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM /
Yazar:: Egerton, R. F.
Baskı/Yayın Bilgisi: (2005) -
Transmission electron microscopy : physics of image formation /
Yazar:: Reimer, Ludwig
Baskı/Yayın Bilgisi: (2008) -
Transmission electron microscopy : a textbook for materials science /
Yazar:: Williams, David B, 1949- (David Bernard)
Baskı/Yayın Bilgisi: (2009) -
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
Yazar:: Goldstein, Joseph
Baskı/Yayın Bilgisi: (2018) -
Principles and practice of variable pressure/environmental scanning electron microscopy (VP-ESEM) /
Yazar:: Stokes, Debbie
Baskı/Yayın Bilgisi: (2008)