Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Tüm sürümleri göster (2)

This thoroughly revised and updated Fourth Edition of a time-honored text provides the reader with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray spectrometry (EDS) for elemental microanalysis, electron backscatter diffraction analysis (EBSD)...

Ful tanımlama

Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar: Goldstein, Joseph I. (Yazar), Newbury, Dale E. (Yazar), Michael, Joseph R. (Yazar), Ritchie, Nicholas W.M (Yazar), Scott, John Henry J. (Yazar), Joy, David C. (Yazar)
Müşterek Yazar: SpringerLink (Online service)
Materyal Türü: e-Kitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: New York, NY : Springer New York : Imprint: Springer, 2018.
Edisyon:4th ed. 2018.
Konular:
Materials > Analysis.
Spectrum analysis.
Biophysics.
Measurement.
Measuring instruments.
Characterization and Analytical Technique.
Spectroscopy.
Bioanalysis and Bioimaging.
Measurement Science and Instrumentation.
Online Erişim:Full-text access
OPAC'ta görüntüle

Internet

Full-text access
OPAC'ta görüntüle

Merkez Kütüphane

Detaylı Erişim Bilgileri Merkez Kütüphane
Kopya Bilgisi UnknownBarcode

Benzer Materyaller