Yüklüyor…

Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM /

Detaylı Bibliyografya
Yazar: Egerton, R. F.
Materyal Türü: Kitap
Dil:Türkçe
İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: New York, NY : Springer, 2005.
Konular:
Online Erişim:OPAC'ta görüntüle
Diğer Bilgiler
Diğer Bilgileri:Dizin : 197-202 s.
Fiziksel Özellikler:xii, 202 sayfa ; 25 cm.
Bibliyografya:Kaynakça : 195-196 s.
ISBN:9780387258003